იზოლატორები - კარიბჭის დრაივერები

SI8230AB-D-ISR

SI8230AB-D-ISR

ნაწილი საფონდო: 51896

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 2500Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 20kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI82391BD-ISR

SI82391BD-ISR

ნაწილი საფონდო: 27366

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 40ns, 40ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8235AB-D-IM1R

SI8235AB-D-IM1R

ნაწილი საფონდო: 87

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 2500Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 45kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8282CC-IS

SI8282CC-IS

ნაწილი საფონდო: 81

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 1, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 50ns, 50ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5ns,

სასურველი
SI8261ACD-C-ISR

SI8261ACD-C-ISR

ნაწილი საფონდო: 62

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 1, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 50ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 28ns,

სასურველი
SI8273AB-IS1R

SI8273AB-IS1R

ნაწილი საფონდო: 33649

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 2500Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 150kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 8ns,

სასურველი
SI82394BD4-ISR

SI82394BD4-ISR

ნაწილი საფონდო: 27369

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 135ns, 95ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8282CC-ISR

SI8282CC-ISR

ნაწილი საფონდო: 103

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 1, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 50ns, 50ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5ns,

სასურველი
SI8233AB-D-ISR

SI8233AB-D-ISR

ნაწილი საფონდო: 38190

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 2500Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 20kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8231BB-D-IS1R

SI8231BB-D-IS1R

ნაწილი საფონდო: 49513

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 2500Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 20kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8232BD-D-ISR

SI8232BD-D-ISR

ნაწილი საფონდო: 39311

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 20kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8231AD-D-IS

SI8231AD-D-IS

ნაწილი საფონდო: 33718

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 20kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8238BD-D-ISR

SI8238BD-D-ISR

ნაწილი საფონდო: 28996

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 20kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8232AB-D-IS

SI8232AB-D-IS

ნაწილი საფონდო: 44547

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 2500Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 20kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8237BD-D-ISR

SI8237BD-D-ISR

ნაწილი საფონდო: 38613

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 20kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8261ABA-C-ISR

SI8261ABA-C-ISR

ნაწილი საფონდო: 72839

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 1, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 50ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 10ns (Typ),

სასურველი
SI82395AD-ISR

SI82395AD-ISR

ნაწილი საფონდო: 27366

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 40ns, 40ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8282BC-IS

SI8282BC-IS

ნაწილი საფონდო: 74

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 1, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 50ns, 50ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5ns,

სასურველი
SI8261BAC-C-ISR

SI8261BAC-C-ISR

ნაწილი საფონდო: 58644

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 1, ძაბვა - იზოლაცია: 3750Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 50ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 28ns,

სასურველი
SI82394AD-ISR

SI82394AD-ISR

ნაწილი საფონდო: 27397

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 40ns, 40ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8233AB-D-IM1R

SI8233AB-D-IM1R

ნაწილი საფონდო: 49

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 2500Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 45kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI82391CD-ISR

SI82391CD-ISR

ნაწილი საფონდო: 27421

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 40ns, 40ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8233BB-D-IMR

SI8233BB-D-IMR

ნაწილი საფონდო: 35692

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 2500Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 20kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8273GB-IS1R

SI8273GB-IS1R

ნაწილი საფონდო: 33608

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 2500Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 150kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 8ns,

სასურველი
SI8221DC-D-IS

SI8221DC-D-IS

ნაწილი საფონდო: 42769

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 1, ძაბვა - იზოლაცია: 3750Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 30kV/µs (Typ), გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 40ns,

სასურველი
SI8231AD-D-ISR

SI8231AD-D-ISR

ნაწილი საფონდო: 39340

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 20kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8231AB-D-ISR

SI8231AB-D-ISR

ნაწილი საფონდო: 51921

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 2500Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 20kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI82391CB-IS1R

SI82391CB-IS1R

ნაწილი საფონდო: 36254

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 2500Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 40ns, 40ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI82390CD-ISR

SI82390CD-ISR

ნაწილი საფონდო: 27391

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 40ns, 40ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8232AD-D-ISR

SI8232AD-D-ISR

ნაწილი საფონდო: 39288

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 20kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8286CC-ISR

SI8286CC-ISR

ნაწილი საფონდო: 59

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 1, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 50ns, 50ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5ns,

სასურველი
SI8235BD-D-IS3R

SI8235BD-D-IS3R

ნაწილი საფონდო: 80

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 5000Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 45kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 5.6ns,

სასურველი
SI8261BCC-C-ISR

SI8261BCC-C-ISR

ნაწილი საფონდო: 58652

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 1, ძაბვა - იზოლაცია: 3750Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 50ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 28ns,

სასურველი
SI8261ABC-C-IS

SI8261ABC-C-IS

ნაწილი საფონდო: 57176

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 1, ძაბვა - იზოლაცია: 3750Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 50ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 28ns,

სასურველი
SI8261BAC-C-IPR

SI8261BAC-C-IPR

ნაწილი საფონდო: 46366

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 1, ძაბვა - იზოლაცია: 3750Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 35kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 60ns, 50ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 28ns,

სასურველი
SI8274AB1-IS1R

SI8274AB1-IS1R

ნაწილი საფონდო: 33612

ტექნოლოგია: Capacitive Coupling, არხების რაოდენობა: 2, ძაბვა - იზოლაცია: 2500Vrms, გარდამავალი იმუნიტეტი (მინიმალური): 150kV/µs, გამრავლების შეფერხება tpLH / tpHL (მაქს): 75ns, 60ns, პულსის სიგანის დამახინჯება (მაქს): 19ns,

სასურველი