ლოგიკა - სპეციალობა ლოგიკა

სახლი
ლოგიკა - სპეციალობა ლოგიკა

SN74GTLP2034DGVR

Texas Instruments

SN74GTLP2034DGVR

ნაწილი საფონდო: 2567

ლოგიკის ტიპი: LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver, მიწოდების ძაბვა: 3.15V ~ 3.45V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 48-TFSOP (0.173", 4.40mm Width),

სასურველი

Texas Instruments

SN74LS31DRE4

ნაწილი საფონდო: 4896

ლოგიკის ტიპი: Delay Element, მიწოდების ძაბვა: 4.75V ~ 5.25V, ბიტების რაოდენობა: 6, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width),

სასურველი

SN74ABTH182652APM

Texas Instruments

SN74ABTH182652APM

ნაწილი საფონდო: 4805

ლოგიკის ტიპი: Scan Test Device With Transceivers And Registers, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 18, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 64-LQFP,

სასურველი

SN74SSTU32864EZKER

Texas Instruments

SN74SSTU32864EZKER

ნაწილი საფონდო: 2863

ლოგიკის ტიპი: 1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer, მიწოდების ძაბვა: 1.7V ~ 1.9V, ბიტების რაოდენობა: 25, 14, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 96-LFBGA,

სასურველი

Texas Instruments

SN74ACT8990FN

ნაწილი საფონდო: 2188

ლოგიკის ტიპი: Test Bus Controller, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 16, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 44-LCC (J-Lead),

სასურველი

SN74BCT8373ADWRE4

Texas Instruments

SN74BCT8373ADWRE4

ნაწილი საფონდო: 4597

ლოგიკის ტიპი: Scan Test Device with D-Type Latches, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

სასურველი

SN74ABT18640DGGR

Texas Instruments

SN74ABT18640DGGR

ნაწილი საფონდო: 2447

ლოგიკის ტიპი: Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 18, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width),

სასურველი

SN74SSTU32866GKER

Texas Instruments

SN74SSTU32866GKER

ნაწილი საფონდო: 2885

ლოგიკის ტიპი: 1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer with Parity, მიწოდების ძაბვა: 1.7V ~ 1.9V, ბიტების რაოდენობა: 25, 14, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 96-LFBGA,

სასურველი

Texas Instruments

SN74ABT8646DL

ნაწილი საფონდო: 6397

ლოგიკის ტიპი: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width),

სასურველი

SN74SSTV16857DGVR

Texas Instruments

SN74SSTV16857DGVR

ნაწილი საფონდო: 2482

ლოგიკის ტიპი: Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR, მიწოდების ძაბვა: 2.3V ~ 2.7V, ბიტების რაოდენობა: 14, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 48-TFSOP (0.173", 4.40mm Width),

სასურველი

SN74ABT8543DWRG4

Texas Instruments

SN74ABT8543DWRG4

ნაწილი საფონდო: 5510

ლოგიკის ტიპი: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

სასურველი

Texas Instruments

SN74FB2033KRCR

ნაწილი საფონდო: 4649

ლოგიკის ტიპი: TTL/BTL Registered Transceiver, მიწოდების ძაბვა: 4.75V ~ 5.25V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 52-QFP,

სასურველი

SN74ABT8646DWRE4

Texas Instruments

SN74ABT8646DWRE4

ნაწილი საფონდო: 4826

ლოგიკის ტიპი: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

სასურველი

Texas Instruments

SN74ABT8646DWR

ნაწილი საფონდო: 4728

ლოგიკის ტიპი: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

სასურველი

Texas Instruments

SN74FB1653PCA

ნაწილი საფონდო: 4191

ლოგიკის ტიპი: LVTTL/BTL Universal Storage Transceiver with Buffered Clock Line, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 17, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 100-LQFP Exposed Pad,

სასურველი

SN74BCT8240ADWRE4

Texas Instruments

SN74BCT8240ADWRE4

ნაწილი საფონდო: 4551

ლოგიკის ტიპი: Scan Test Device with Inverting Buffers, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

სასურველი

Texas Instruments

SN74FB2040RCG3

ნაწილი საფონდო: 4510

ლოგიკის ტიპი: TTL/BTL Transceiver/Translator, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 52-QFP,

სასურველი

Texas Instruments

SN74AS181ADWR

ნაწილი საფონდო: 4569

ლოგიკის ტიპი: Arithmetic Logic Unit, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

სასურველი

Texas Instruments

SN74S1050DRE4

ნაწილი საფონდო: 7524

ლოგიკის ტიპი: Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array, ბიტების რაოდენობა: 12, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width),

სასურველი

CD74ACT283M96E4

Texas Instruments

CD74ACT283M96E4

ნაწილი საფონდო: 5266

ლოგიკის ტიპი: Binary Full Adder with Fast Carry, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 4, ოპერაციული ტემპერატურა: -55°C ~ 125°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width),

სასურველი

SN74GTLP22034GQLR

Texas Instruments

SN74GTLP22034GQLR

ნაწილი საფონდო: 2579

ლოგიკის ტიპი: LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver, მიწოდების ძაბვა: 3.15V ~ 3.45V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 56-VFBGA,

სასურველი

Texas Instruments

SN74ACT8990FNR

ნაწილი საფონდო: 2676

ლოგიკის ტიპი: Test Bus Controller, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 16, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 44-LCC (J-Lead),

სასურველი

SN74FB2040RCRG3

Texas Instruments

SN74FB2040RCRG3

ნაწილი საფონდო: 4691

ლოგიკის ტიპი: TTL/BTL Transceiver/Translator, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 52-QFP,

სასურველი

SN74GTLP22033ZQLR

Texas Instruments

SN74GTLP22033ZQLR

ნაწილი საფონდო: 4689

ლოგიკის ტიპი: LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver, მიწოდების ძაბვა: 3.15V ~ 3.45V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 56-VFBGA,

სასურველი

SN74ABTH18652APM

Texas Instruments

SN74ABTH18652APM

ნაწილი საფონდო: 4277

ლოგიკის ტიპი: Scan Test Device With Transceivers And Registers, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 18, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 64-LQFP,

სასურველი

Texas Instruments

SN74BCT8374ANT

ნაწილი საფონდო: 4687

ლოგიკის ტიპი: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Through Hole, პაკეტი / კორპუსი: 24-DIP (0.300", 7.62mm),

სასურველი

Texas Instruments

SN74ABT8996PW

ნაწილი საფონდო: 7185

ლოგიკის ტიპი: Addressable Scan Ports, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 10, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 24-TSSOP (0.173", 4.40mm Width),

სასურველი

SN74BCT8244ADWR

Texas Instruments

SN74BCT8244ADWR

ნაწილი საფონდო: 4601

ლოგიკის ტიპი: Scan Test Device with Buffers, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

სასურველი

SN74ABT18504PMRG4

Texas Instruments

SN74ABT18504PMRG4

ნაწილი საფონდო: 4798

ლოგიკის ტიპი: Scan Test Device with Universal Bus Transceivers, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 20, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 64-LQFP,

სასურველი

SN74BCT29854DWRE4

Texas Instruments

SN74BCT29854DWRE4

ნაწილი საფონდო: 4596

ლოგიკის ტიპი: 8-Bit to 9-Bit Parity Bus Transceiver, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

სასურველი

SN74ABT8543DWRE4

Texas Instruments

SN74ABT8543DWRE4

ნაწილი საფონდო: 4747

ლოგიკის ტიპი: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

სასურველი

Texas Instruments

CD40117BNSRG4

ნაწილი საფონდო: 5414

ლოგიკის ტიპი: Programmable Terminator, მიწოდების ძაბვა: 3V ~ 18V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: -55°C ~ 125°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 14-SOIC (0.209", 5.30mm Width),

სასურველი

SN74SSTU32864DGKER

Texas Instruments

SN74SSTU32864DGKER

ნაწილი საფონდო: 2805

ლოგიკის ტიპი: 1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer, მიწოდების ძაბვა: 1.7V ~ 1.9V, ბიტების რაოდენობა: 25, 14, ოპერაციული ტემპერატურა: 0°C ~ 70°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 96-LFBGA,

სასურველი

SN74ABTE16245DLG4

Texas Instruments

SN74ABTE16245DLG4

ნაწილი საფონდო: 6839

ლოგიკის ტიპი: Incident-Wave Switching Bus Transceivers, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 16, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 48-BSSOP (0.295", 7.50mm Width),

სასურველი

SN74LVTH182646APM

Texas Instruments

SN74LVTH182646APM

ნაწილი საფონდო: 5490

ლოგიკის ტიპი: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers, მიწოდების ძაბვა: 2.7V ~ 3.6V, ბიტების რაოდენობა: 18, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 64-LQFP,

სასურველი

SN74ABT8646DWRG4

Texas Instruments

SN74ABT8646DWRG4

ნაწილი საფონდო: 5464

ლოგიკის ტიპი: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, მიწოდების ძაბვა: 4.5V ~ 5.5V, ბიტების რაოდენობა: 8, ოპერაციული ტემპერატურა: -40°C ~ 85°C, სამონტაჟო ტიპი: Surface Mount, პაკეტი / კორპუსი: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

სასურველი

452

«
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
»